更新時(shí)間：2024-01-08
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廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：
概述
UT Smart leeb530數(shù)字式超聲探傷儀能夠快速便捷、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位、評(píng)估及診斷，廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。
主要功能
UT Smart leeb530數(shù)字式超聲探傷儀檢測(cè)范圍：零界面入射0～1000；
儀器校準(zhǔn)自動(dòng)化，可測(cè)量材料厚度和材料聲速；
菜單式操作模式，直顯式操作提示，簡(jiǎn)潔明了，讓操作者可快速掌握儀器操作；
閘門(mén)報(bào)警：門(mén)位、門(mén)寬、門(mén)高任意可調(diào)，閘門(mén)可選擇設(shè)置進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警，閘門(mén)內(nèi)蜂鳴聲；
缺陷定位：實(shí)時(shí)顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置，方便對(duì)缺陷直接定位；
缺陷定性：通過(guò)回波包絡(luò)波形，方便人工判斷；
DAC/AVG：曲線自動(dòng)生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動(dòng)浮動(dòng)。能顯示任意孔徑的AVG曲線；
波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析；
板厚輸入：輸入工件厚度，二次波三次波的缺陷儀器顯示缺陷實(shí)際深度，并對(duì)波形為幾次波實(shí)時(shí)提示；
焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式和聲速走向，直觀顯示缺陷位置；
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)：可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，滿足各行業(yè)探傷需求；
探頭工作方式：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探傷；
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：16組探傷參數(shù)通道（通過(guò)回放復(fù)制存儲(chǔ)文件，可將參數(shù)通道擴(kuò)充至300個(gè)），可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù)，自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn)；可存儲(chǔ)300幅探傷回波信號(hào)及參數(shù)，實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)、讀出及通過(guò)USB接口傳輸。利用計(jì)算機(jī)客戶端軟件，可快速自動(dòng)生成探傷報(bào)告;
通訊接口：USB2.0 高速通訊傳輸接口，安全、穩(wěn)定、可靠、快捷。
特點(diǎn)
小巧、輕便、便攜，適合野外、高空作業(yè)。
技術(shù)參數(shù)
名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍（mm） | 0～1000 |
垂直線性誤差 | ＜3% |
水平線性誤cha | ＜0.1% |
探傷靈敏度余量 | ≥50dB |
動(dòng)態(tài)范圍 | >36dB |
分辨率 | >36dB |
頻率范圍（MHz） | 0.5 ～ 10MHz |
增益調(diào)節(jié)（dB） | 0 ～ 110dB |
材料聲速（m/s） | 1000～9999 |
脈沖移位 | 0 ～ 5000mm |
回波抑制 | 0 ～90% |
適用探頭 | 直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭 |
顯示方式 | 5.0″真彩顯示 |
工作溫度（℃） | -25℃～ 50℃ |
工作電壓 | 4.2V DC ~220 AC交流適配器 |
連續(xù)工作時(shí)間 | >12小時(shí) |
外形尺寸（mm） | 162mm(長(zhǎng))Χ105mm(寬)Χ40mm(高) |
重量（Kg） | 0.68Kg(含電池) |
標(biāo)準(zhǔn)配置
名稱 | 數(shù)量 |
超聲波探傷儀主機(jī) | 1 |
電源適配器 | 1 |
BNC電纜 | 1 |
直探頭 | 1 |
斜探頭 | 1 |
使用說(shuō)明書(shū) | 1 |
保修登記卡 | 1 |
裝箱單 | 1 |
產(chǎn)品合格證 | 1 |
意見(jiàn)反饋書(shū) | 1 |
儀器箱 | 1 |
軟件 | 1 |
超聲波探傷儀選配試塊
超探試塊型號(hào) | 參數(shù) |
CSK-IA | 碳鋼，選配件.NB/T47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)，K值、校準(zhǔn) |
CSK-IIA-1# | 碳鋼，選配件.NB/T47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，4個(gè)孔5.15.25.35 孔直徑2mm |
CSK-IIA-2# | 碳鋼，選配件.NB/T47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，5個(gè)孔10.30.50.70.90，孔直徑2mm |
CSK-IIA-3# | 碳鋼，選配件.NB/T47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，10個(gè)孔10.20.50.60.90.100.130.140.170.180，孔直徑2mm |
CSK-IIIA | 碳鋼，選配件.NB/T47013《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，7個(gè)孔20.40.60.80.100.120.140，孔直徑1mm |
CSK-IB（CSK-ZB） | 碳鋼，選配件. GB/T 11345-2013《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定》鋼結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，K值、校準(zhǔn) |
RB-1 | 碳鋼，選配件. GB/T 11345-2013《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定》鋼結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，2個(gè)孔5.10，孔直徑3mm |
RB-2 | 碳鋼，選配件. GB/T 11345-2013《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定》鋼結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，5個(gè)孔40.60.80.100.110，孔直徑3mm |
RB-3 | 碳鋼，選配件. GB/T 11345-2013《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定》鋼結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，做曲線，8個(gè)孔20.40.60.80.100.120.140.160.，孔直徑3mm |
CSK-ICJ | 一套3塊 |
RBJ-1 | 一套3塊 |
CSK-IDJ |
|
板-板V型 | 焊縫試塊，板-板V型。尺寸：300*300*200MM |
超聲波探傷儀選配探頭
序號(hào) | 探頭分類 | 探頭晶片尺寸mm ×mm | 探頭弧面對(duì)應(yīng)直徑（mm） | 適用工件外徑 | 頻率 | 適合間距（mm） |
1 | JYZ-1爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞15 |
2 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞15 |
3 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞15 |
4 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞15 |
5 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞15 |
6 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞15 |
7 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞15 |
8 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
9 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
10 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
11 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
12 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
13 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
14 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ600 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
15 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | 平面 | ＞Φ500 | 2.5P | 瓷套探傷專用 |
16 | JYZ-2爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 |
17 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 |
18 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 |
19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 |
19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 |
20 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 |
21 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 |
22 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 |
23 | JYZ-3爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 |
24 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 |
25 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 |
26 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 |
27 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 |
28 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 |
29 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 |
30 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 |
31 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ120 6° | ＞Φ100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
32 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ140 6° | ＞Φ120 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
33 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ160 6° | ＞Φ140 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
34 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 6° | ＞Φ160 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
35 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ200 6° | ＞Φ180 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
36 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面6° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
37 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 8° | ＞100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
38 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面8° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 |
39 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 5P | 瓷套探傷專用 |
40 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 5P | 瓷套探傷專用 |
41 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 5P | 瓷套探傷專用 |
42 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 5P | 瓷套探傷專用 |
43 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 5P | 瓷套探傷專用 |
44 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 5P | 瓷套探傷專用 |
45 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 5P | 瓷套探傷專用 |
46 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 5P | 瓷套探傷專用 |
47 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 5P | 瓷套探傷專用 |
48 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 5P | 瓷套探傷專用 |
49 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ600 | ＞Φ500 | 5P | 瓷套探傷專用 |
50 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞600 | 5P | 瓷套探傷專用 |
51 | 縱波直探頭 | Φ10 | 平 面 |
| 5P | 聲速測(cè)定用 |
注：超聲波探傷儀試塊、探頭及探頭線均可定制多種規(guī)格。
點(diǎn)擊交流